1.一種金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述金屬異物檢測(cè)方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量服從指數(shù)分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)閾值表示為，其中，t為檢測(cè)閾值，α為閾值調(diào)整系數(shù)，z為平均噪聲功率。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取待測(cè)產(chǎn)品的檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量，具體包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，根據(jù)所述檢測(cè)統(tǒng)計(jì)量，基于預(yù)設(shè)的取點(diǎn)規(guī)則，計(jì)算得到平均噪聲功率，具體包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述平均噪聲功率表示為，其中，z為對(duì)稱(chēng)采樣點(diǎn)的平均噪聲功率，w為對(duì)稱(chēng)采樣點(diǎn)數(shù)量，i為第i個(gè)采樣點(diǎn)，ni表示第i個(gè)采樣點(diǎn)對(duì)應(yīng)的噪聲功率。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述平均噪聲功率，計(jì)算得到檢測(cè)閾值，具體包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的金屬異物檢測(cè)方法，其特征在于，所述確定閾值調(diào)整系數(shù)時(shí)有，故有，其中，α為閾值調(diào)整系數(shù)，w為對(duì)稱(chēng)采樣點(diǎn)數(shù)量，pfa為目標(biāo)誤報(bào)率。
9.一種金屬異物檢測(cè)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并在所述處理器上運(yùn)行的程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述金屬異物檢測(cè)方法的步驟。
10.一種存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有程序，其特征在于，所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述金屬異物檢測(cè)方法的步驟。