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空白掩模及制造空白掩模的方法與流程

文檔序號:42326531發(fā)布日期:2025-07-01 19:45閱讀:來源:國知局

技術(shù)特征:

1.一種制造空白掩模的方法,所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述光致抗蝕劑層包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,在維持所述光致抗蝕劑樹脂組合物填充在所述噴嘴的內(nèi)部的狀態(tài)時,

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中,將所述光致抗蝕劑樹脂組合物填充在所述噴嘴的內(nèi)部的狀態(tài)維持30秒至300分鐘。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中,在維持所述光致抗蝕劑樹脂組合物填充在所述噴嘴的內(nèi)部的狀態(tài)時,

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,維持所述光致抗蝕劑樹脂組合物填充在所述噴嘴的內(nèi)部的所述狀態(tài),直到所述殘留物從所述噴嘴的所述內(nèi)表面脫離。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體的數(shù)量小于20/36平方英寸。

8.一種空白掩模,所述空白掩模包括:

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的空白掩模,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體的數(shù)量小于20/36平方英寸。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的空白掩模,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體的折射率與所述光致抗蝕劑層的折射率不同。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的空白掩模,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體的厚度與所述光致抗蝕劑層的厚度不同。

12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的空白掩模,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體的光學(xué)厚度與所述平坦部分的光學(xué)厚度不同。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的空白掩模,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體包括光路改變部。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的空白掩模,其中,所述光路改變部的折射率與所述平坦部分的折射率不同。

15.一種制造空白掩模的方法,所述方法包括:

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,通過填充在所述噴嘴的內(nèi)部的所述光致抗蝕劑樹脂組合物使附著到所述噴嘴的所述內(nèi)表面的所述殘留物脫離。

17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,將所述光致抗蝕劑樹脂組合物填充在所述噴嘴的內(nèi)部的狀態(tài)維持30秒至300分鐘。

18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,所述殘留物的折射率與所述光致抗蝕劑層的折射率不同。

19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,所述光致抗蝕劑樹脂組合物為液體,并且所述殘留物為固體。

20.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,所述光學(xué)不規(guī)則體的數(shù)量小于20/36平方英寸。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及空白掩模及制造空白掩模的方法。提供了一種制造空白掩模的方法,該方法包括:在透光性基板上形成遮光膜,以形成光學(xué)基板;準(zhǔn)備用于將光致抗蝕劑樹脂組合物噴灑到該光學(xué)基板上的噴嘴;用該光致抗蝕劑樹脂組合物填充該噴嘴并且維持該光致抗蝕劑樹脂組合物填充在該噴嘴的內(nèi)部的狀態(tài);去除該噴嘴的內(nèi)部的該光致抗蝕劑樹脂組合物;以及使用該噴嘴在該遮光膜上形成光致抗蝕劑層。

技術(shù)研發(fā)人員:丁海永,李亨株,鄭經(jīng)世
受保護(hù)的技術(shù)使用者:SK恩普士有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/6/30
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