本申請涉及性能測試，尤其涉及一種固態(tài)硬盤性能波動測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)：
1、隨著非易失閃存（negative-and?flash，nand?flash）技術(shù)的快速發(fā)展，固態(tài)硬盤（solid?state?drive，ssd）的性能和可靠性成為市場競爭的關(guān)鍵因素。
2、由于固態(tài)硬盤的性能會受到nand閃存固有特性的影響，通常情況下，需要由相關(guān)工作人員對固態(tài)硬盤進(jìn)行測試，以確定固態(tài)硬盤性能受影響的程度。目前，對于固態(tài)硬盤性能受影響程度的測試大多依賴于相關(guān)工作人員的測試經(jīng)驗(yàn)對固態(tài)硬盤進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作，同時觀察數(shù)據(jù)讀寫過程中固態(tài)硬盤的性能表現(xiàn)。
3、然而，人工測試的數(shù)據(jù)讀寫操作流程以及性能觀測的主觀性較強(qiáng)，無法保證測試效率與準(zhǔn)確性。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請?zhí)峁┝艘环N固態(tài)硬盤性能波動測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，以至少解決相關(guān)技術(shù)中測試效率與準(zhǔn)確性低的問題。
2、本申請?zhí)峁┝艘环N固態(tài)硬盤性能波動測試方法，包括：
3、根據(jù)性能測試指令，生成性能測試指令對應(yīng)的測試動作序列；
4、調(diào)用測試工具對待測試固態(tài)硬盤執(zhí)行測試動作序列；
5、獲取測試動作序列執(zhí)行過程中，待測試固態(tài)硬盤的存儲性能指標(biāo)；
6、基于存儲性能指標(biāo)的變化量，計(jì)算得到待測試固態(tài)硬盤的性能波動測試結(jié)果。
7、本申請還提供了一種固態(tài)硬盤性能波動測試裝置，包括：
8、第一生成模塊，用于根據(jù)性能測試指令，生成性能測試指令對應(yīng)的測試動作序列；
9、執(zhí)行模塊，用于調(diào)用測試工具對待測試固態(tài)硬盤執(zhí)行測試動作序列；
10、獲取模塊，用于獲取測試動作序列執(zhí)行過程中，待測試固態(tài)硬盤的存儲性能指標(biāo)；
11、計(jì)算模塊，用于基于存儲性能指標(biāo)的變化量，計(jì)算得到待測試固態(tài)硬盤的性能波動測試結(jié)果。
12、本申請還提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲器，用于存儲計(jì)算機(jī)程序；處理器，用于執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)上述任一種固態(tài)硬盤性能波動測試方法的步驟。
13、本申請還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有計(jì)算機(jī)程序，其中，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)上述任一種固態(tài)硬盤性能波動測試方法的步驟。
14、本申請還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)上述任一種固態(tài)硬盤性能波動測試方法的步驟。
15、本申請通過根據(jù)性能測試指令生成相應(yīng)的測試動作序列，將多個測試動作組織成可重復(fù)執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)化測試流程，消除人工執(zhí)行測試操作的差異對測試結(jié)果的影響，并基于測試動作序列執(zhí)行過程中待測試固態(tài)硬盤的存儲性能指標(biāo)的變化量計(jì)算待測試固態(tài)硬盤的性能波動測試結(jié)果，在有充分?jǐn)?shù)據(jù)支持的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)固態(tài)硬盤性能波動的客觀評估，從測試過程與結(jié)果評估兩方面共同實(shí)現(xiàn)測試的自動化與標(biāo)準(zhǔn)化，提高了測試的效率與準(zhǔn)確性。
1.一種固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，所述根據(jù)性能測試指令，生成所述性能測試指令對應(yīng)的測試動作序列，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，當(dāng)所述性能測試指令為讀干擾測試指令時，所述調(diào)用測試工具對待測試固態(tài)硬盤執(zhí)行所述測試動作序列，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，所述存儲性能指標(biāo)包括數(shù)據(jù)讀取帶寬、數(shù)據(jù)讀寫效率；所述性能波動測試結(jié)果包括帶寬波動測試結(jié)果和讀寫效率波動測試結(jié)果；
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，當(dāng)所述性能測試指令為數(shù)據(jù)保持能力測試指令時，所述調(diào)用測試工具對待測試固態(tài)硬盤執(zhí)行所述測試動作序列，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，所述存儲性能指標(biāo)包括數(shù)據(jù)讀取帶寬、數(shù)據(jù)讀寫效率；所述性能波動測試結(jié)果包括帶寬波動測試結(jié)果和讀寫效率波動測試結(jié)果；
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的固態(tài)硬盤性能波動測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.一種固態(tài)硬盤性能波動測試裝置，其特征在于，包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有計(jì)算機(jī)程序，其中，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述固態(tài)硬盤性能波動測試方法的步驟。