本申請(qǐng)涉及計(jì)算機(jī)，尤其涉及一種告警功能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)：
1、服務(wù)器等計(jì)算設(shè)備的電源供應(yīng)器（power?supply?unit，簡(jiǎn)稱(chēng)：psu）內(nèi)部設(shè)有告警機(jī)制，用于在發(fā)生故障時(shí)向如基板管理控制器（baseboard?management?controller，簡(jiǎn)稱(chēng)：bmc）等控制設(shè)備上報(bào)告警信息，以使控制設(shè)備及時(shí)報(bào)出psu異常告警。
2、在相關(guān)技術(shù)中，為了確保控制設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)正常的psu異常告警，通常會(huì)在告警功能測(cè)試階段，對(duì)psu進(jìn)行故障注入，如使用負(fù)載儀等裝置對(duì)psu進(jìn)行人工加壓泄壓等，以驗(yàn)證電源供應(yīng)器在發(fā)生故障時(shí)，是否能夠正常向控制設(shè)備上報(bào)告警信息，控制設(shè)備是否能在得到告警信息的情況下進(jìn)行psu異常告警的正常報(bào)出。但是，對(duì)psu進(jìn)行故障注入的方式可能會(huì)導(dǎo)致psu發(fā)生物理故障，測(cè)試成本較高，且測(cè)試效率較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N告警功能測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，以至少解決相關(guān)技術(shù)中對(duì)psu進(jìn)行故障注入的方式可能會(huì)導(dǎo)致psu發(fā)生物理故障，測(cè)試成本較高，且測(cè)試效率較低的問(wèn)題。
2、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N告警功能測(cè)試方法，包括：
3、獲取用戶(hù)對(duì)測(cè)試對(duì)象的告警功能測(cè)試需求；
4、根據(jù)所述告警功能測(cè)試需求，調(diào)用目標(biāo)測(cè)試用例；
5、基于所述目標(biāo)測(cè)試用例，修改所述測(cè)試對(duì)象的閾值寄存器，以使所述測(cè)試對(duì)象在正常工況下觸發(fā)相應(yīng)的告警流程；
6、分析所述測(cè)試對(duì)象在觸發(fā)所述告警流程時(shí)生成的狀態(tài)字，得到狀態(tài)字分析結(jié)果；其中，所述狀態(tài)字分析結(jié)果至少包括當(dāng)前發(fā)生的故障類(lèi)型；
7、根據(jù)所述狀態(tài)字分析結(jié)果，確定所述測(cè)試對(duì)象的告警功能測(cè)試結(jié)果。
8、本申請(qǐng)還提供了一種告警功能測(cè)試裝置，包括：
9、獲取模塊，用于獲取用戶(hù)對(duì)測(cè)試對(duì)象的告警功能測(cè)試需求；
10、調(diào)用模塊，用于根據(jù)所述告警功能測(cè)試需求，調(diào)用目標(biāo)測(cè)試用例；
11、修改模塊，用于基于所述目標(biāo)測(cè)試用例，修改所述測(cè)試對(duì)象的閾值寄存器，以使所述測(cè)試對(duì)象在正常工況下觸發(fā)相應(yīng)的告警流程；
12、分析模塊，用于分析所述測(cè)試對(duì)象在觸發(fā)所述告警流程時(shí)生成的狀態(tài)字，得到狀態(tài)字分析結(jié)果；其中，所述狀態(tài)字分析結(jié)果至少包括當(dāng)前發(fā)生的故障類(lèi)型；
13、測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述狀態(tài)字分析結(jié)果，確定所述測(cè)試對(duì)象的告警功能測(cè)試結(jié)果。
14、本申請(qǐng)還提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；處理器，用于執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一種告警功能測(cè)試方法的步驟。
15、本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一種告警功能測(cè)試方法的步驟。
16、本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一種告警功能測(cè)試方法的步驟。
17、通過(guò)本申請(qǐng)，由于采用了軟件層面修改閾值寄存器的方式觸發(fā)告警流程，無(wú)需對(duì)psu進(jìn)行物理改造或外接額外硬件來(lái)注入故障，避免了因硬件操作不當(dāng)引發(fā)的psu物理故障風(fēng)險(xiǎn)。同時(shí)，自動(dòng)化地調(diào)用目標(biāo)測(cè)試用例并快速分析狀態(tài)字，減少了人工干預(yù)環(huán)節(jié)。因此，可以解決相關(guān)技術(shù)中對(duì)psu進(jìn)行故障注入的方式可能會(huì)導(dǎo)致psu發(fā)生物理故障，測(cè)試成本較高，且測(cè)試效率較低的問(wèn)題，達(dá)到降低測(cè)試過(guò)程中psu硬件損壞風(fēng)險(xiǎn)、減少測(cè)試成本以及提高告警功能測(cè)試效率的技術(shù)效果。
1.一種告警功能測(cè)試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的告警功能測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述告警功能測(cè)試需求，調(diào)用目標(biāo)測(cè)試用例，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的告警功能測(cè)試方法，其特征在于，所述基于所述目標(biāo)測(cè)試用例，修改所述測(cè)試對(duì)象的閾值寄存器，以使所述測(cè)試對(duì)象在正常工況下觸發(fā)相應(yīng)的告警流程，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的告警功能測(cè)試方法，其特征在于，所述分析所述測(cè)試對(duì)象在觸發(fā)所述告警流程時(shí)生成的狀態(tài)字，得到狀態(tài)字分析結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的告警功能測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述狀態(tài)字分析結(jié)果，確定所述測(cè)試對(duì)象的告警功能測(cè)試結(jié)果，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的告警功能測(cè)試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述故障日志與所述目標(biāo)測(cè)試用例之間的匹配情況，確定所述測(cè)試對(duì)象的告警功能測(cè)試結(jié)果，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的告警功能測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.一種告警功能測(cè)試裝置，其特征在于，包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述告警功能測(cè)試方法的步驟。