技術(shù)編號：42327255
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體零部件測試，具體涉及一種適用于半導(dǎo)體零部件的壽命測試、加熱測試、電源測試等項(xiàng)目的便攜式小型測試系統(tǒng)及測試方法。背景技術(shù)、在當(dāng)今數(shù)字化時(shí)代，半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)作為信息技術(shù)的核心支撐，呈現(xiàn)出蓬勃發(fā)展的態(tài)勢。半導(dǎo)體零部件作為產(chǎn)業(yè)的基石，其種類極為繁雜，涵蓋了從芯片制造過程中的光刻掩模版、晶圓承載器，到封裝環(huán)節(jié)的引線框架、鍵合絲等眾多關(guān)鍵部件。、而且不同品牌的半導(dǎo)體零部件在設(shè)計(jì)理念、制造工藝上存在顯著差異，即便同一品牌下不同系列的產(chǎn)品，也因應(yīng)用場景的多樣化，在性能側(cè)重點(diǎn)上大相徑庭，所以要對不...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。